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Depistaggio via D’Amelio: consulenti persone offese assisteranno ad esame nastri

Redazione

Depistaggio via D’Amelio: consulenti persone offese assisteranno ad esame nastri

Mer, 12/06/2019 - 16:45

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Si terra’ il 19 giugno prossimo, nella sede del Racis dei carabinieri, a Roma, l’accertamento tecnico irripetibile nell’ambito dell’inchiesta sul depistaggio sulla strage di via D’Amelio del 1992 in cui perse la vita il giudice Paolo Borsellino. La richiesta e’ stata avanzata dalla Procura di Messina, la quale ha iscritto nel registro degli indagati, con l’ipotesi di calunnia aggravata, due ex magistrati della Procura di Caltanissetta che in quegli anni si occuparono dell’inchiesta sull’attentato costato la vita al giudice Paolo Borsellino ed agli uomini della sua scorta. Ai due magistrati e’ stato notificato l’avviso di accertamento tecnico irripetibile relativo ad alcune intercettazioni. Un atto necessario in quanto, trattandosi di intercettazioni di vecchie conversazioni ed essendo i nastri soggetti ad usura del tempo, c’e’ il rischio di distruzione. Per questo motivo il procuratore di Messina, Maurizio de Lucia, ha chiesto di eseguire l’accertamento tecnico irripetibile e scoprire se ci sono elementi utili alle indagini. All’esame dei nastri parteciperanno i consulenti delle persone offese che sono Cosimo Vernengo, Giuseppe La Mattina, Gaetano Murana, Gaetano Scotto, Giuseppe Urso e Natale Gambino, condannati nel primo processo sulla base delle dichiarazioni del pentito Scarantino e poi assolti, difesi dagli avvocati Rosalba Di Gregorio e Giuseppe Scozzola. Da mesi la procura di Messina ha acceso i fari sul depistaggio nell’inchiesta sulla strage di via D’Amelio in cui, il 19 luglio 1992, a Palermo, persero la vita il giudice Paolo Borsellino e gli uomini della scorta.

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